信息与测试保障中心近期新引进微区X射线荧光分析仪一套。2018年6月4日至7日期间，仪器公司美国总部产品应用专员Mandi及国内应用工程师苏耿贤对该设备进行了安装、调试。王玉桥高工对仪器进行了现场安装验收。微区X射线荧光分析仪可以利用能谱原理，无损地分析待测样品的元素组成，不仅可以分析10 μm的微小区域，还可以自动扫描样品。该设备的引进，使平台在元素分析方向的检测能力得到提升。